基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd)，其测量单位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量
可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度：
1. 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数(D)。
2. 统计程序中新开发的和修改的代码行数(N)。
3. 计算每千行的缺陷数Dd=1000*D/N。例如，一个29.6万行的源程序总共有145个缺陷，则缺陷密度是： Dd＝1000*145/296000=0.49 defects／KLOC。